Lumus AR专利提出通过样品表征促进精确一致的光学测量
通过光学样品表征来促进精确和一致的测量
（映维网Nweon 2024年07月20日）波导厂商Lumus一直专注于AR光学器件。这家公司认为，当前用于测量光学器件，特别是涂层的技术限于小范围的角度，或一组小的离散角度，并且由于折射而存在显著问题。所以，测量结果通常缺乏一致性和/或准确性。
针对这个问题，Lumus在名为“Optical sample characterization”的专利申请中提出了通过光学样品表征来促进精确和一致的测量。
这家公司指出，相关光学样品具有高于空气的折射率，光学样品表征有助于在通过光学样品（如涂层玻璃板）的光传播的整个角度范围内的任何角度进行测量和测试。
在一个实施例中，一种可旋转组件包括具有中空部分的圆柱体和包括中空部分的容器。容器包含折射率与光学样品和/或圆柱体的折射率匹配的流体。光学光束垂直于圆柱体表面输入，穿过圆柱体，然后通过流体到达光学样品，在那里，光束被透射和/或反射，然后离开圆柱体并被收集用于分析。
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